二次元計測機器

輝度・色度&輝度・近赤外


機構装置

配光・透過反射・全光束


計測SOlutionS

カスタム・現場計測・貸出


Our PRODUCts & Services

二次元計測機器

 ACE3 SEries

フラットパネルディスプレイ業界で活躍したRISA-COLOR Seriesの後継機。産業用カメラの小型化とシンプルな接続で、柔軟な計測解析を実現。自動車・ディスプレイ・安全維持管理・建材/建築関連で利用。

  • 3種類の計測選定
     輝度・色度&輝度・近赤外
  • 2種類の計測方式
     静的:サンプリング計測・経時変化計測
     動的:FPS計測(Frame/Sec.)
  • 豊富な解析機能と用途に応じたソフトウェア
  • 直感的なソフトウェアUI

多軸機構装置

 MC Series

ゴニオメーター方式の自動制御により、配光分布の角度依存性を正確に測定。計測機器は当社製品に限定せず、競合製品にも対応可能。小型から大型までのディスプレイ、照明の全光束、光学フィルムの透過・反射特性、テールランプ評価など、多様な用途に応じたカスタマイズが可能な汎用モデル。

  • 自由度の高い計測機器選定
     ACE3 Seriesのほか、通信制御対応の競合他社機器にも対応
  • 多軸駆動へのカスタマイズ
     鉛直回転・水平回転の2軸に加え、XYステージの追加が可能
     光源・計測機器の両方における多軸制御も相談可能
  • 直観的なソフトウェアUI
     扱いやすい操作設計で、スムーズな計測を実現
  • 設計から導入・アフターサポートまで一貫対応
     導入後も継続サポートし、納入先との長期的な関係を維持

計測ソリューション

 Measurement Solutins

当社製品を活用し、現場計測から機器選定、研究開発支援まで幅広く対応。現調・計測解析支援・設計開発相談を通じ、専門性の高い提案を行い、導入からアフターサポートまで一貫して支援。

  • 現場計測支援
     走行評価、路面分布、街路灯/体育館改修、文化財評価
  • 研究開発支援
     新製品評価、特許関連評価、大学/高専の研究テーマ
  • 機器選定装置開発支援
     多軸角度特性、透過/反射特性、光学解析評価、機器選定相談
  • その他設備関連のご相談
     光学関連以外でもご相談をお受けする場合があります。

Contact Us

会 社 名
有限会社ハイランド 
所 在 地
〒112-0001 東京都文京区白山2-30-1 森川ビル4F
 03-5689-6205
業 種 / 業 務
計測機器・設備業
計測機器の開発・販売、機構装置の設計・開発・販売 その他、関連付随業務
取引先業種
自動車関連・安全維持関連・フラットパネルディスプレイ(FPD)関連・光学関連
建築/建材関連・照明関連・電気工事関連・大学/高専・研究機関
その他計測設備同業種・販売商社
利用用途
二次元計測解析(輝度・色度&輝度・近赤外) 
1.研究開発 / 検査
 FPDバックライト / OLED 面分布評価、光学フィルム特性評価、レンズ照射分布評価

    車載搭載製品関連評価、建材選定評価、光源特性評価      

2. 環境計測解析   

    車載動的分布評価、鳥瞰 / 巨視観測評価、定点観測分布評価、経時変化評価

    文化財 / 公共施設 / 景観 / 安全維持管理評価

機構装置計測解析 (輝度、照度、反射)       

1. 照度配光特性 全光束・照度配光特性
2. 輝度配光特性 面分布角度特性評価

3. 輝度、照度配光特性 透過、反射特性評価
(その他、研究開発用途)

海外販売窓口
[ 台 湾 ] 高碇科技有限公司
[ 韓 国 ] HI-LAND KOREA