多軸駆動 × 光学評価|MC Seriesの次なる展開

ゴニオメーター方式機構装置は、大型液晶ディスプレイの角度特性評価を機に照明業界へ進出。

汎用性の高い機構装置として、照度配光や全光束計測に展開。

現在は、多軸駆動による光学特性や透過 / 反射特性評価向けにカスタマイズ対応を進めています。

 標準仕様の機構装置(旧仕様の引継ぎモデル)

MC-M

MC-M 小型
卓上型1軸配光

MC-2D-NF

MC-2D-NF 小型
倍率NF角度特性

MC-2D-L

MC-2D-L 中型
32inchサイズ角度特性

MC-2D-G-L

MC-2D-G-L 中型
反射計測用途 角度特性

MC-2D

MC-2D 小中型
輝度/照度配光・全光束

MC-2D

MC-2D 小型~中型
対象物・測定機器搭載例

MC-2D-4paiN

MC-2D-4paiN 電球サイズ
照度配光・全光束計測


MC-2D-S 大型
角度特性・配光特性・全光束

※ 横型の中大型仕様 「MC-2D-S」は、標準選定品では耐荷重オーバーになるため、個別仕様でのご案内となります。

System 

標準システム

Main System

ZERO-FP 4paiN

ZERO-FP MC-2D-4paiN
照度配光・全光束計測

ZERO-FP

ZERO-FP MC-2D
分光放射照度・照度配光・全光束

ZERO-FP

ZERO-FP MC-2D
輝度/照度 配光特性

ZERO-FP

ZERO-FP MC-2D
正反射計測

製品名
ZERO-FP
搭載実績機器
分光放射輝度計SR-3A(SR LEDW)
色彩輝度計BM-7ANA
輝度計BM-9
分光放射照度計IM-1000, CL-500
色彩照度計CL-200
照度計IM-600, T-10A
紫外線強度計UVR-300
計 測
照度配光全光束(lm), 発光効率 (lm/W) 
照度配光 (lx)
色彩照度配光

全光束(lm), 発光効率 (lm/W)

照度配光 (lx),色度変化 (xy, uv)

近紫外線強度配光強度配光 (W)
分光放射照度配光

全光束(lm), 発光効率 (lm/W)

照度配光 (lx),色度変化 (xy, uv)
分光特性(W/m3 ),演色性 (Ra)
色温度 (K) ,XYZ

輝度角度特性輝度(cd/m2), Add-in 正反射(%)
出力データー
csv

 Add-in SYstem 

拡張システム:拡張計測解析

add-in System

ACE3 Series のアドイン機能として、拡張可能な角度特性評価

ACE3 MC-2D

ACE3 Series Add-in MC-2D
二次元計測機器+機構装置

ACE3 Add-in MC-2D

Add-in MC-2D 
機構装置と連携した角度特性評価

ACE3 Add-in MC-2D

Add-in MC-2D 計測演算中画面

ACE3 Add-in MC-2D

Add-in MC-2D  角度特性及び配光特性

CAse studies 

多軸機構装置 事例(個別仕様)

 Case Study No.1  MC4軸( 鉛直・水平回転+XYステージ)

MC Series MC4軸

MC Series MC4軸

機構装置品名 MC Series MC4軸
ふり幅(W)1,645×(D)1,561×(H)1,695mm
駆動鉛直 ±90°(Limit:±80°) 最小:0.1°
水平 ±180°       最小:0.1°
X Y   各500mm       最小:0.1mm
通信制御RS-485
消費電力AC100V×8(AC100V直結×4, AC200VTo100V×4)
重量100 Kg 以下
検出機器測定機器BM-7 ANA (Topcon Technohouse製)
通信制御デジタル:RS-232C
アナログ:X,Y,Zインピーダンス
ファインダー
1/2" CMOS Color 1,280×1,024 
消費電力
AC100V (BM-7ANA)
耐荷重
5kg以下

 Case Study No.2  MC3軸( 鉛直回転 1軸・水平回転 2軸)

MC Series MC3軸

MC Series MC3軸

機構装置品名 MC Series MC3軸
サイズ(W)1,800×(D)500×(H)1,500mm
駆動鉛直 ±90° 最小:1°
水平 各±180°   最小:1°
通信制御RS-485
消費電力AC100V×8(AC100V直結×3, AC200VTo100V×3)
重量100 Kg 以下
検出機器通信制御USB2.0、RS-232C
消費電力
AC100V (BM-7ANA)
耐荷重
4kg以下

構装置のご相談に関して 

納入先の多くは検査工程、研究開発となります。

ご相談からアフターサポートまで一貫して実施しています。
旧仕様の機構装置及びシステムの同類事項に関しては、標準仕様のご案内となります。
個別仕様の場合、要件定義を元に設計していくため、時間を要します。

お打ち合わせ及び経過状況を確認しながらの開発となります。

要件定義


個別仕様の場合、要件の抽出は必須です。計測方法、測定機器の選定、光源の選定などを元に機構設計とシステム開発の確認でお打ち合わせを複数回実施しています。

経過状況確認


ご発注後、各部材手配を進めながら、経過状況で動作確認を実施していきます。ここでも最終システムでの動作確認では複数回実施しながら進めていきます。

専門技術サポート


導入前のサポート、協業を通じて計測解析の最適化を検討します。アフターサポートでもカスタマイズや個別仕様のご相談を承ります

構装置に関するお問い合わせ